7226 - Microscopie en champ proche par réflexion

Description bibliographique

Auteur :

Spajer, M. ; Courjon, D. ; Sarayeddine, K. ; Jalocha, A. (Université de Franche-Comté. LOPMD. Laboratoire d'optique P.M. Duffieux. Besançon. France) ; Vigoureux, J.-M. (Université de Franche-Comté. LPM. Laboratoire de physique moléculaire. Besançon. France)

Éditeur :

EDP Sciences. Les Ulis. France

Page source :

Journal de Physique III, vol. 1, n. 1, http://www.edpsciences.org/journal/index.cfm?edpsname=jp3

Langue :

français

Date de publication :

1991/01

Description du contenu

Spécialité :

Sciences exactes - Physique - Optique

Mots clés :

microscopie électronique ; microscopie à champ proche ; détection optique ; diffraction ; STOM ; PSTM

Table des matières :

1. Introduction
2. Principe
3. Historique de la microscopie à champ proche
4. Principe de la détection en microscopie à champ proche
5. Microscopie tunnel optique à balayage (STOM) en réflexion interne
6. Microscopie tunnel optique à balayage en réflexion externe
7. Etat de l'art des modèles physiques
8. Résultats significatifs récents en microscopie à champ proche
9. Conclusion
Bibliographie

Résumé :

Cette communication présente deux techniques permettant l'analyse de surface haute résolution. Dans la première, le faisceau d'éclairage est réfléchi totalement sous la surface de l'objet, nécessairement transparent. L'onde évanescente qui l'accompagne est frustrée localement par une pointe diélectrique de dimension nanométrique balayant la surface. Une résolution de 10 nm horizontalement et de 1 nm verticalement a été obtenue. Dans la seconde, qui permet d'étudier un objet opaque, celui-ci est éclairé par le champ proche émis par la pointe, dans laquelle le faisceau réfléchi est partiellement réinjecté. Les premiers résultats concernant la caractérisation de la pointe sont présentés. (Résumé de l’auteur)

Accès à la ressource

Format :

PDF
Taille du fichier : entre 500 ko et 1 Mo

Notes :

Document de 12 pages

URL de référence :

http://www.edpsciences.org/articles/jp3/pdf/1991/01/jp3v1p1.pdf

Notice mise en ligne le 29/01/2005